美國(guó)必達(dá)泰克光學(xué)反射率儀
                
                
                    
                        價(jià)  格:詢價(jià)
                    
                        產(chǎn)  地:美國(guó)更新時(shí)間:2020-10-29 16:46
                    
                    
                        品  牌:必達(dá)泰克型  號(hào):
                    
                        狀  態(tài):正常點(diǎn)擊量:1758
                    
                        
                        
                            
                                
                                    400-006-7520 
                                
                            
                            
                                
                                    聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)說(shuō)明是在上海非利加實(shí)業(yè)有限公司上看到的,謝謝!
                                
                             
                         
                      
                 
                 
                    
                    
                        聯(lián) 系 人:
                            上海非利加實(shí)業(yè)有限公司 
                        
                    
                        電   話:
                            400-006-7520 
                        
                    
                        傳   真:
                            400-006-7520 
                            
                        
                    
                    
                        配送方式:
                            上海自提或三方快遞 
                        
                    
                        聯(lián)系我時(shí)請(qǐng)說(shuō)在上海非利加實(shí)業(yè)有限公司上看到的,謝謝!
                 
                
             
            
            
                
                
                
                
                
                
                
                
                    
                        
                
                    
                        1. 512元線性PDA陣列光譜儀,16位AD,USB2.0接口 
2. 特殊半透鏡專(zhuān)利技術(shù),能高效收集試樣表面反射光,避免底部反射光影響,提高測(cè)試精度 
3. ***大限度的提高光纖到狹縫的能量利用效率 
4. 外置式探頭可選,更方便的用于大面積、高曲率、現(xiàn)場(chǎng)特殊環(huán)境監(jiān)測(cè)
    
                     
                 
                 
                 
                
                
                
                
                    
                        
                            產(chǎn)品參數(shù)
                    
                    
                        
                
                    
                    
                        檢測(cè)范圍:350-1050nm 
光斑尺寸:50um 
樣品曲率半徑:-1R~-∞ ,:+1R~+∞ 
重現(xiàn)性:±0.01% 
光學(xué)分辨率:3.5nm 
測(cè)量時(shí)間:3-65535ms
    
                     
                 
                 
                 
                
                
                
                
                    
                        
                            產(chǎn)品介紹
                    
                    
                        
                
                    
                    
                        精確檢測(cè)光學(xué)鏡片等表面鍍膜物質(zhì)反射率的理想選擇。內(nèi)建光源,專(zhuān)用三維樣品臺(tái),顯微聚焦功能和精確頂點(diǎn)定位機(jī)制。標(biāo)準(zhǔn)USB2.0/1.1接口,專(zhuān)用反射率檢測(cè)軟件 
既可適合小面積曲面和平面樣品反射率檢測(cè),又有外接探頭選項(xiàng)可以現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)大面積高曲率等特殊界面。