引言：鈣鈦礦材料被廣泛用于太陽能電池的開發(fā)。由于其具有前景的光伏性能，這類太陽能電池正被系統(tǒng)地研究。鈣鈦礦薄膜的厚度和形貌是影響太陽能電池性能的***重要因素。特別是，研究發(fā)現(xiàn)當(dāng)鈣鈦礦厚度小于400 nm時，鈣鈦礦太陽能電池的效率在很大程度上取決于薄膜厚度；而當(dāng)厚度大于400 nm時，效率則顯著依賴于鈣鈦礦層的薄膜形貌。在本應(yīng)用說明中，我們使用FR-Tools測量鈣鈦礦薄膜的厚度。

方法與手段：用于表征的樣品為兩種厚度不同的CH?NH?PbBr?鈣鈦礦薄膜，均沉積在標(biāo)準(zhǔn)的ITO/SiO?/鈉鈣玻璃基底上，其結(jié)構(gòu)示意圖如圖所示。反射率測量使用ThetaMetrisis FR-Basic VIS/NIR設(shè)備完成，其工作光譜范圍為350–1020 nm。

圖1. 層狀結(jié)構(gòu)的示意圖

結(jié)果：圖2a）和b）分別展示了兩種樣品在FR-Monitor軟件中測得的典型反射光譜（黑線）與擬合后的反射光譜（紅線）。兩次測量的擬合均在500–750 nm光譜范圍內(nèi)進(jìn)行，樣品1中鈣鈦礦薄膜的厚度測得為516.9 nm，而樣品2中的厚度測得為394.4 nm。

圖2a）：樣品1的實驗反射光譜與擬合反射光譜。測得厚度為515 nm。

圖2b）：樣品2的實驗反射光譜與擬合反射光譜。測得厚度為392 nm。